事業内容のご案内Business activity

ごあいさつ

私たちTOPは、技術を核としたベンチャー企業として創業以来、半導体検査分野における価値創出に取り組んできました。
お客様の現場課題に真摯に向き合いながら、技術力と信頼を着実に積み重ね、今日のTOPの基盤を築いています。
主力であるパワー半導体検査ならびに自動車用電子部品・センサー検査の分野においては、培ってきたコア技術・知識・経験をもとに、開発から導入、運用までを見据えた製品・ソリューションを提供してまいりました。
その過程で、求められる品質水準の高い領域にも対応できる技術基盤を確立し、着実に適用範囲を広げています。
半導体関連産業を取り巻く環境は、技術革新と市場変化が加速する中で、常に変化を求められています。
私たちは、ベンチャーとして培ってきた柔軟な発想力と機動力を強みに、変化を前向きに捉え、技術の深化と新たな価値創造に挑戦し続けていきます。
今後も、これまでに築いてきた技術基盤を大切にしながら、革新的な技術を積極的に取り入れ、お客様の品質向上と事業成長に貢献してまいります。
あわせて、地域とともに歩み、技術と人を通じて社会に貢献する企業であり続けたいと考えています。
社名に込めた「TOP」の想いのもと、この技術分野において選ばれ続ける存在を目指し、さらなる成長へ挑戦してまいります。
今後とも、皆様のご支援とご指導を賜りますよう、よろしくお願い申し上げます。

代表取締役社長　内田 貴博

方針

半導体テスタ技術を応用し半導体、自動車電子部品関連製品の測定及び測定技術を提供します

高電圧デバイス測定装置関連

• 高電圧デバイス測定装置用モジュール（静特性・動特性）
• 装置、測定方法コンサルティング　低インダクタンスバスバー設計・製造

テスタ技術を応用した測定装置の提供（AD高速変換、高速光伝送技術）

• 多ピン（2,000ピン）バーイン測定装置用検査ユニット
• 太陽光パネル　OSテスタ
• ローコストテスタ

半導体テスタプログラム開発（T社）

• 新規デバイス用プログラム及びDIB開発
• 既存プログラム時短、QA等、他社テスタへの移設（書換え）

時短化、信頼性アップなど半導体テスター用試験ボードの設計

GHz信号に対応したDIB(Device Interface Board)、HIB(Handler Interface Board)、BOSTなど各種プリント基板の設計。kV、kAレベルの高電圧/大電流モジュール、基板、バスバーなどの設計。

社内設備用測定機器の開発・コンサルティング

PCI Express等による高速低価格社内設備用測定機器の開発高速信号基板設計や高電圧大電流機器設計のコンサルティング。

その他、半導体・電子部品・モジュール・テストに関する全般

高効率バーンインシステムなど。

実績

• SiC用連続試験装置用検査ユニット
• IGBT用動特性試験装置
• 小型卓上型IGBT用試験装置
• 太陽光パネル　導線オープン・ショート　検査装置
• 超多ピン（2000ピン）アナログメジャーメント装置
• IGBT検査装置用バスーバユニット
• インバータ用電流センサー試験装置
• 超低インダクタンス動特性検査装置
• 回転角度センサー試験装置