用途

・民生機器用IGBT/MOSFET試験
・車載用IGBT試験
・産業機器用IGBT/MOSFET試験
・SiC-MOSFET・ダイオード試験

特徴

・高速、安定測定
・寄生インダクタンス最適化（30～250nH）
・R&Dから量産まで対応（低温・高温対応）
・ゲート抵抗、負荷インダクタンス、寄生インダクタンス自動切替機能

・コンタクトチェック
・ワーク温度測定
・ワーク破壊チェック
・誘導負荷スイッチング試験
・ダイオードリカバリ特性試験
・ゲート電荷量試験
・アバランシェ試験
・短絡耐量試験