TOPの企業理念は「計測技術で地域に貢献する」です。
現在、半導体関連産業を取り巻く環境は大変厳しい状況に置かれています。
私どもは「パワー半導体検査」「自動車用電子部品・センサー検査」をキーワードにお客様に価値のある製品を提供し、地域の雇用を継続・促進していく事が我々の最大の指命と考えています。
そのために今私どもが持っています、コア技術・知識・経験を十分に活用し、
さらに革新的な技術を製品に活かすことで、お客様に提供する事によりお客様の成功に少しでも貢献して行きたいと考えます。
また、我々はベンチャー起業ですのでビジネス環境や技術革新に伴う変化に追従し、変化を楽しむ企業体質にしたいと思います。
「TOP」の社名の様にこの技術分野で「トップ」になれるように日々精進していきます。
まだまだ発展途上のTOPですが今後ともに皆様のご支援・ご指導を宜しくお願い致します。
代表取締役 重村 慎二
半導体テスタ技術を応用し半導体、自動車電子部品関連製品の測定及び測定技術を提供します
高電圧デバイス測定装置関連
・高電圧デバイス測定装置用モジュール（静特性・動特性）・装置、測定方法コンサルティング 低インダクタンスバスバー設計・製造
テスタ技術を応用した測定装置の提供（AD高速変換、高速光伝送技術）
・多ピン（2,000ピン）バーイン測定装置用検査ユニット・太陽光パネル OSテスタ
・ローコストテスタ
半導体テスタプログラム開発（T社）
・新規デバイス用プログラム及びDIB開発・既存プログラム時短、QA等、他社テスタへの移設（書換え）
時短化、信頼性アップなど半導体テスター用試験ボードの設計
GHz信号に対応したDIB(Device Interface Board)、HIB(Handler Interface Board)、BOSTなど各種プリント基板の設計。kV、kAレベルの高電圧/大電流モジュール、基板、バスバーなどの設計。社内設備用測定機器の開発・コンサルティング
PCI Express等による高速低価格社内設備用測定機器の開発高速信号基板設計や高電圧大電流機器設計のコンサルティング。その他、半導体・電子部品・モジュール・テストに関する全般
高効率バーンインシステムなど。
- SiC用連続試験装置用検査ユニット
- IGBT用動特性試験装置
- 小型卓上型IGBT用試験装置
- 太陽光パネル 導線オープン・ショート 検査装置
- 超多ピン(2000ピン）アナログメジャーメント装置
- IGBT検査装置用バスーバユニット
- インバータ用電流センサー試験装置
- 超低インダクタンス動特性検査装置
- 回転角度センサー試験装置
